langer MV-Technik工具E1

Langer EMV-Technik處于EMC領域的研究，開發和生產的前沿。通過EMC實驗研討會和EMC研討會，我們為客戶提供了全面的知識。

我們的 干擾發射 和 抗干擾性 EMC測量技術以及IC測試系統主要用于開發階段，并且在范圍內都有需求。

產品展示

PCB抗擾度

測量系統和EMC工具，用于進行組件和設備的抗擾性測試和分析

PCB發射

在開發階段用于組件和設備排放分析的測量系統和EMC工具

測量和校準站

測量和校準站用于校準EMC測量儀器并確定連接器的EMC參數。

教學與培訓測量技術

EMC實驗的模型裝配

IC測量技術

借助IC（集成電路）測試系統，開發人員可以在特定干擾（傳導和輻射）或其輻射期間測試電路的行為。該IC在運行中經過了測試。

E1是一組EMC工具，用于在開發階段抑制印刷電路板中的EMI。開發人員可以使用E1集快速識別突發和ESD干擾的原因。這使開發人員可以設計適當的措施來解決干擾的原因。它也可以用來測試所采取措施的有效性。E1測試裝置很小，可輕松安裝在開發人員的桌子上。E1集用戶手冊介紹了EMC機制，并詳細描述了用于抑制印刷電路板中干擾的基本測量策略。E1集包括一個發生器，用于產生突發和ESD干擾。

供貨范圍

• 1倍SGZ 21，脈沖發生器
• 1倍S21，光學傳感器（10 Mbps）
• 1倍BS 02，磁場源
• 1倍BS 04DB，磁場源
• 1倍BS 05D，磁場源
• 1倍BS 05DU，磁場源
• 1倍ES 00，電場源
• 1倍ES 01，電場源
• 1倍ES 02，電場源
• 1倍ES 05D，電場源
• 1倍ES 08D，電場源
• 1倍MS 02，磁場探頭
• 1倍E1 acc，配件
• 1倍NT FRI EU，電源裝置
• 1倍E1案例，系統案例
• 1倍E1 m，E1設置用戶手冊

Langer EMV-Technik P1 set

Langer EMV-Technik P23 set

Langer EMV-Technik P11t set

Langer EMV-Technik P12t set

Langer EMV-Technik CAN 100 set

Langer EMV-Technik CAN 100 A01 set

LIN 100 set

BD 11

BD 06B

BD 01B

BD 01E

ESA1 set

HFW 21 set

Z23-1 set

Z23-2 set

NNB 21 set

PA 203 SMA套件

PA 303 BNC套件

PA 303 SMA套件

PA 303 N套

PA 306 SMA套

ICS 105

FLS 106 IC

Langer EMV-Technik FLS 106 PCB

Langer EMV-Technik SUH 106

Langer EMV-Technik LF1

Langer EMV-Technik MFA-K 0.1-12 set

Langer EMV-Technik A100-1 set

Langer EMV-Technik XF-R 100-1

迷你突發場發生器特別小。它們用于在開發階段識別和消除電子裝配中的薄弱環節。它們會在其產生脈沖串或ESD場。微型脈沖發生器用手在其被測設備（例如印刷電路板）上靠近其表面的方向上引導。弱點會響應脈沖場，并且會發生故障。突發場發生器可以應用于電路板設計的選定單個部分，以識別潛在的弱點（接地系統中的故障，單個走線或IC引腳）。分開的磁耦合（P11和P12）和電耦合（P21）允許針對相應的弱點佳地調整EMC對策。

供貨范圍

• 1倍P11，迷你爆發場發生器（B）
• 1倍P12，迷你爆發場發生器（B）
• 1倍P21，迷你爆發場發生器（E）
• 1倍P1機殼，Mini Burst Field Generators機殼
• 1倍P1 m，P1設置用戶手冊
• langer MV-Technik工具E1